음향:electric_circuit:component_tolerence
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| 음향:electric_circuit:component_tolerence [2026/01/24] – [부품 유형별 편차율] 정승환 | 음향:electric_circuit:component_tolerence [2026/01/24] (현재) – [집적도 영향] 정승환 | ||
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| 줄 13: | 줄 13: | ||
| 집적도가 증가함에 따라(진공관 1개 < 쓰루홀 수십 개 < SMD 수백 개 < IC 수억 개) 리소그래피 같은 미세 공정이 적용되어 편차가 반비례합니다. 고집적 IC는 웨이퍼 전체 균일화로 정밀도가 극대화됩니다. | 집적도가 증가함에 따라(진공관 1개 < 쓰루홀 수십 개 < SMD 수백 개 < IC 수억 개) 리소그래피 같은 미세 공정이 적용되어 편차가 반비례합니다. 고집적 IC는 웨이퍼 전체 균일화로 정밀도가 극대화됩니다. | ||
| + | <WRAP tablewidth 100%> | ||
| ^ 부품 유형 ^ 전형적 편차율 ^ 집적도 수준 ^ 주요 원인 ^ | ^ 부품 유형 ^ 전형적 편차율 ^ 집적도 수준 ^ 주요 원인 ^ | ||
| | 진공관 | | 진공관 | ||
| 줄 18: | 줄 19: | ||
| | SMD | ±0.5~5% | | SMD | ±0.5~5% | ||
| | IC | 0.1~1% (ppm)| 높음 | | IC | 0.1~1% (ppm)| 높음 | ||
| + | </ | ||
| {{tag> | {{tag> | ||
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음향/electric_circuit/component_tolerence.txt · 마지막으로 수정됨: 저자 정승환
